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产品介绍

  • 非均匀性较正

    超高的非均匀性较正技术

  • -40℃ ~ +60℃

    -40℃ ~ +60℃环境下，工作稳定

  • 384×288像素

    25μm非制冷焦平面探测器

技术参数

型号DLC384/25μm
敏感材料非晶硅
阵列规模384×288
像元间距25μm×25μm
光谱范围8μm～14μm
控温TEC
帧频60Hz
NETD(f/1,300K,50Hz)≤40mK


可操作率≥99.5%
功耗（不含TEC）130mW
外形尺寸mm（不含引脚等）32×23.5×7.1
重量≤20g
工作温度范围-40℃～+85℃
贮存温度范围-40℃～+85℃

网站数据仅供参考，如遇变更或调整恕不另行通知，以实际产品为准。

探测器对比

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